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IEEE Journal of the Electron Devices Society
Artículo
Acceso abierto Artículo DOAJ
IEEE Journal of the Electron Devices Society
IEEE; United States · ISSN 2168-6734
Materias / palabras clave: field effect transistors, logic gates, integrated circuit devices, display technologies, wearable devices; Technology: Electrical engineering. Electronics. Nuclear engineering
Idioma English
Acceso abiertoRuta libre sin proxy. Acceso recomendado cuando no hay suscripción activa.
Open Access
Disponible en línea Ficha bibliográfica