Multi-Split SOI Super-Junction VDMOS: A TCAD Simulation Study of the Single-Event Effect
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This work presents a radiation-hardened Superjunction Vertical Double-Diffused MOSFET (SJ-VDMOS) architecture designed to improve robustness against destructive single-event effects (SEEs), specifically Single-Event Gate...
LCC LCC:Electrical engineering. Electronics. Nuclear engineeringIdioma eng
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