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Fracción de Volumen Cristalina en Muestras de µc-Si Dopadas con Boro Obtenida Mediante Espectroscopia Raman

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Fracción de Volumen Cristalina en Muestras de µc-Si Dopadas con Boro Obtenida Mediante Espectroscopia Raman

Dussan, A. et al · Sociedad Colombiana de Física · 2009 · ISSN 0120-2650

En este trabajo, se depositaron muestras de silicio microcristalino dopadas con Boro (μc-Si:H (B)) a partir del método de deposición química en fase de vapor asistida por plasma (PECVD), usando silano (SiH4) diluido ...

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Correlación de modelos de transporte de VRH para muestras de silicio microcristalino dopadas con Boro

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Correlación de modelos de transporte de VRH para muestras de silicio microcristalino dopadas con Boro

Dussan Cuenca, Anderson et al · Asociación Física Argentina · 2005

En este trabajo se realizaron medidas de conductividad en un amplio rango de temperaturas (120 < T < 420 K) a películas delgadas de silicio microcristalino compensadas con Boro. Se estableció que el mecanismo de transp...

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