Novedades Ayuda Acceso institucional

Buscar recursos académicos

Encontrá libros, artículos, revistas, tesis y otros recursos académicos. Buscá, elegí el resultado correcto y accedé al contenido.

Búsqueda avanzada
Qué reúne NODOVOX Discovery: catálogos institucionales, recursos electrónicos, revistas de acceso abierto, colecciones disponibles y enlaces de consulta académica.
medicina forense derecho revistas Open Access texto completo

Resultados

1 resultados encontrados.

Tipos de recurso: Libro electrónico Artículo Revista Tesis Capítulo
Búsqueda académica
Measurement of the doped ion depth of junction semiconductor prepared by ion implementation using ESCA technique
Artículo
Acceso abierto Artículo DOAJ
Measurement of the doped ion depth of junction semiconductor prepared by ion implementation using ESCA technique
Slah Sheet et al · University of Mosul, College of Education for Pure Science · 2008 · ISSN 1812-125X
Abstract Measurement the depth of ion implantation is considered to be one of the important subject in physics , which has been employed by using SIMS and RBS methods. In this research Electron spectroscopy of chemical A...
LCC TENDOkVkdWNhdGlvbg~~; LCC:Science (General)Idioma eng
Acceso abiertoRuta libre sin proxy. Acceso recomendado cuando no hay suscripción activa.
Open Access
Disponible en línea Ficha bibliográfica