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Sensitive measurement of optical nonlinearities using a single beam
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Sensitive measurement of optical nonlinearities using a single beam
Mansoor Sheik‐Bahae; A. A. Said; Tai‐Huei Wei; David J. Hagan; Eric W. Van Stryland · IEEE Journal of Quantum Electronics · 1990
A sensitive single-beam technique for measuring both the nonlinear refractive index and nonlinear absorption coefficient for a wide variety of materials is reported. The authors describe the experimental details and pres...
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