A New Approach to the Habit Determination of Nano-objects by SEM

K. S. Maksimov et al · SAGE Publishing · 2013

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Autor / responsable

K. S. Maksimov et al

Editorial

SAGE Publishing

Año

2013

ISSN

1847-9804

ISSN

1847-9804

Idioma

Inglés

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A novel approach to the inspection of nanoparticle habit was proposed in our previous papers. This approach is based on a joint analysis of two scanning electron microscopy (SEM) images corresponding to different convergences of illuminating electron beams. However, increasing convergence worsens an image as the result of spherical aberration. Therefore, for the first time in this paper we describe in detail a new approach which is an alternative to the method of two convergences. It is based on the use of two defocusings which are identical in size, but opposite in signs, thereby. simplifying the demands of SEM.

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al, K. S. M. E. (2013). A New Approach to the Habit Determination of Nano-objects by SEM. https://doi.org/10.5772/56746

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al, K. S. Maksimov et. "A New Approach to the Habit Determination of Nano-objects by SEM." 2013. https://doi.org/10.5772/56746.

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al, K. S. Maksimov et. 2013. "A New Approach to the Habit Determination of Nano-objects by SEM.". https://doi.org/10.5772/56746.

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al, K. S. M. E. 2013, A New Approach to the Habit Determination of Nano-objects by SEM, SAGE Publishing, available at: https://doi.org/10.5772/56746 [Accessed 5 Aug. 2026].

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Título: A New Approach to the Habit Determination of Nano-objects by SEM

Autor / colaboradores: K. S. Maksimov et al

Editorial: SAGE Publishing

Año de publicación: 2013

ISSN: 1847-9804

ISSN: 1847-9804

Idioma: Inglés

Materias

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