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Automatization of Measurements of Photoelectric Parameters of High Impedance Semiconductor Films

B. S. Dzundza et al · Vasyl Stefanyk Carpathian National University · 2019

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Autor / responsable
B. S. Dzundza et al
Editorial
Vasyl Stefanyk Carpathian National University
Año
2019
ISSN
1729-4428
ISSN
1729-4428
Idioma
Inglés

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<p class="ArticleAnnotation">A method for measuring the electrical conductivity and photoconductivity of semiconductor films with high electrical resistance is described. An electric circuit is presented and a computer program is developed. That provides automation of measurements, registration and initial processing of data, the possibility of constructing timelines graphs for preliminary analysis of experimental data already in the process of measurement.</p> <p class="ArticleAnnotation"><strong>Key words:</strong> electrical parameters, photoconductivity, automation, microcontroller.</p>

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APA 7

al, B. S. D. E. (2019). Automatization of Measurements of Photoelectric Parameters of High Impedance Semiconductor Films. https://doi.org/10.15330/pcss.19.4.363-367

MLA

al, B. S. Dzundza et. "Automatization of Measurements of Photoelectric Parameters of High Impedance Semiconductor Films." 2019. https://doi.org/10.15330/pcss.19.4.363-367.

Chicago

al, B. S. Dzundza et. 2019. "Automatization of Measurements of Photoelectric Parameters of High Impedance Semiconductor Films.". https://doi.org/10.15330/pcss.19.4.363-367.

Harvard

al, B. S. D. E. 2019, Automatization of Measurements of Photoelectric Parameters of High Impedance Semiconductor Films, Vasyl Stefanyk Carpathian National University, available at: https://doi.org/10.15330/pcss.19.4.363-367 [Accessed 5 Aug. 2026].

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Título
Automatization of Measurements of Photoelectric Parameters of High Impedance Semiconductor Films
Autor / colaboradores
B. S. Dzundza et al
Editorial
Vasyl Stefanyk Carpathian National University
Año de publicación
2019
ISSN
1729-4428
ISSN
1729-4428
Idioma
Inglés
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