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Automatization of Measurements of Photoelectric Parameters of High Impedance Semiconductor Films

B. S. Dzundza et al · Vasyl Stefanyk Carpathian National University · 2019

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Autor / Verantwortliche
B. S. Dzundza et al
Verlag
Vasyl Stefanyk Carpathian National University
Jahr
2019
ISSN
1729-4428
ISSN
1729-4428
Sprache
Inglés

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<p class="ArticleAnnotation">A method for measuring the electrical conductivity and photoconductivity of semiconductor films with high electrical resistance is described. An electric circuit is presented and a computer program is developed. That provides automation of measurements, registration and initial processing of data, the possibility of constructing timelines graphs for preliminary analysis of experimental data already in the process of measurement.</p> <p class="ArticleAnnotation"><strong>Key words:</strong> electrical parameters, photoconductivity, automation, microcontroller.</p>

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APA 7

al, B. S. D. E. (2019). Automatization of Measurements of Photoelectric Parameters of High Impedance Semiconductor Films. https://doi.org/10.15330/pcss.19.4.363-367

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al, B. S. Dzundza et. "Automatization of Measurements of Photoelectric Parameters of High Impedance Semiconductor Films." 2019. https://doi.org/10.15330/pcss.19.4.363-367.

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al, B. S. Dzundza et. 2019. "Automatization of Measurements of Photoelectric Parameters of High Impedance Semiconductor Films.". https://doi.org/10.15330/pcss.19.4.363-367.

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al, B. S. D. E. 2019, Automatization of Measurements of Photoelectric Parameters of High Impedance Semiconductor Films, Vasyl Stefanyk Carpathian National University, available at: https://doi.org/10.15330/pcss.19.4.363-367 [Accessed 6 Aug. 2026].

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Titel
Automatization of Measurements of Photoelectric Parameters of High Impedance Semiconductor Films
Autor / Mitwirkende
B. S. Dzundza et al
Verlag
Vasyl Stefanyk Carpathian National University
Erscheinungsjahr
2019
ISSN
1729-4428
ISSN
1729-4428
Sprache
Inglés
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