Novità Aiuto Accesso istituzionale
Torna ai risultati
Scheda bibliografica · Consultazione e accesso
Artículo

Automatization of Measurements of Photoelectric Parameters of High Impedance Semiconductor Films

B. S. Dzundza et al · Vasyl Stefanyk Carpathian National University · 2019

Materiale supplementare disponibile
Lettura rapida. Controlla i dati essenziali della risorsa e accedi al contenuto con il pulsante principale. La scheda mostra solo le informazioni necessarie per identificare, citare e aprire l’opera.
Autore / responsabile
B. S. Dzundza et al
Editore
Vasyl Stefanyk Carpathian National University
Anno
2019
ISSN
1729-4428
ISSN
1729-4428
Lingua
Inglés

Accesso alla risorsa

Apri il contenuto dall’opzione principale o scegli un’altra fonte disponibile.

DOAJ DOAJ Articles
Entrar por DOAJ
Accesso principale

Materiale supplementare disponibile

El enlace apunta a material asociado, anexos, tablas, datos o página complementaria. No se marca como libro/texto completo.
Apri materiale

Riepilogo

Descripción general del contenido del recurso.

<p class="ArticleAnnotation">A method for measuring the electrical conductivity and photoconductivity of semiconductor films with high electrical resistance is described. An electric circuit is presented and a computer program is developed. That provides automation of measurements, registration and initial processing of data, the possibility of constructing timelines graphs for preliminary analysis of experimental data already in the process of measurement.</p> <p class="ArticleAnnotation"><strong>Key words:</strong> electrical parameters, photoconductivity, automation, microcontroller.</p>

Come citare

Elegí el formato que necesitás y copiá la referencia al portapapeles.

APA 7

al, B. S. D. E. (2019). Automatization of Measurements of Photoelectric Parameters of High Impedance Semiconductor Films. https://doi.org/10.15330/pcss.19.4.363-367

MLA

al, B. S. Dzundza et. "Automatization of Measurements of Photoelectric Parameters of High Impedance Semiconductor Films." 2019. https://doi.org/10.15330/pcss.19.4.363-367.

Chicago

al, B. S. Dzundza et. 2019. "Automatization of Measurements of Photoelectric Parameters of High Impedance Semiconductor Films.". https://doi.org/10.15330/pcss.19.4.363-367.

Harvard

al, B. S. D. E. 2019, Automatization of Measurements of Photoelectric Parameters of High Impedance Semiconductor Films, Vasyl Stefanyk Carpathian National University, available at: https://doi.org/10.15330/pcss.19.4.363-367 [Accessed 5 Aug. 2026].

Condividi e stampa

Salva la scheda, copia il link permanente o stampala in PDF.

Esporta riferimento

Esporta il record nei formati più comuni per usarlo con un gestore bibliografico.

RIS BibTeX

Dettagli della risorsa

Informazioni bibliografiche utili per verificare che sia il materiale corretto.

Titolo
Automatization of Measurements of Photoelectric Parameters of High Impedance Semiconductor Films
Autore / collaboratori
B. S. Dzundza et al
Editore
Vasyl Stefanyk Carpathian National University
Anno di pubblicazione
2019
ISSN
1729-4428
ISSN
1729-4428
Lingua
Inglés
Copiato