Ellipsometry - Principles and Techniques for Materials Characterization

Faustino Wahaia · IntechOpen

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Autor / responsable

Faustino Wahaia

Editorial

IntechOpen

ISBN

9789535136248;9789535136231

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Wahaia, F. s. f, Ellipsometry - Principles and Techniques for Materials Characterization, IntechOpen, available at: https://nodovox.com/record.php?id=177170 [Accessed 23 Jun. 2026].

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Título: Ellipsometry - Principles and Techniques for Materials Characterization

Autor / colaboradores: Faustino Wahaia

Editorial: IntechOpen

ISBN: 9789535136248;9789535136231