Chapter Atomic Force Microscopy in Optical Imaging and Characterization

Veis, Martin · InTechOpen

Material complementario disponible

Lectura rápida. Revisá los datos básicos del recurso y luego accedé al contenido desde el botón principal. En esta ficha solo se muestra la información necesaria para identificar la obra, citarla y abrirla.

Autor / responsable

Veis, Martin

Editorial

InTechOpen

ISSN

10.5772/35559

Acceso al recurso

Entrá al contenido desde la opción principal o elegí otra fuente disponible.

Acceso principal

Material complementario disponible

El enlace apunta a material asociado, anexos, tablas, datos o página complementaria. No se marca como libro/texto completo.

Abrir material

Cómo citar

Elegí el formato que necesitás y copiá la referencia al portapapeles.

APA 7

Veis, M. (s. f.). Chapter Atomic Force Microscopy in Optical Imaging and Characterization. InTechOpen. https://nodovox.com/record.php?id=190316

MLA

Veis, Martin. Chapter Atomic Force Microscopy in Optical Imaging and Characterization. InTechOpen. https://nodovox.com/record.php?id=190316.

Chicago

Veis, Martin. s. f. Chapter Atomic Force Microscopy in Optical Imaging and Characterization. InTechOpen. https://nodovox.com/record.php?id=190316.

Harvard

Veis, M. s. f, Chapter Atomic Force Microscopy in Optical Imaging and Characterization, InTechOpen, available at: https://nodovox.com/record.php?id=190316 [Accessed 30 Jun. 2026].

Compartir e imprimir

Guardá la ficha, copiá su enlace permanente o imprimila como PDF.

Exportar referencia

Si usás un gestor bibliográfico, podés exportar el registro en los formatos más comunes.

RIS BibTeX

Detalles del recurso

Información bibliográfica útil para confirmar que se trata del material correcto.

Título: Chapter Atomic Force Microscopy in Optical Imaging and Characterization

Autor / colaboradores: Veis, Martin

Editorial: InTechOpen

ISSN: 10.5772/35559