Data-driven Methods for Fault Localization in Process Technology

Kühnert, Christian · KIT Scientific Publishing

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Autor / responsable

Kühnert, Christian

Editorial

KIT Scientific Publishing

ISBN

9783731500988

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Kühnert, C. s. f, Data-driven Methods for Fault Localization in Process Technology, KIT Scientific Publishing, available at: https://nodovox.com/record.php?id=211165 [Accessed 29 Jun. 2026].

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Título: Data-driven Methods for Fault Localization in Process Technology

Autor / colaboradores: Kühnert, Christian

Editorial: KIT Scientific Publishing

ISBN: 9783731500988