← Volver a resultados
Ficha bibliográfica · Consulta y acceso
Libro

Certifying China : The Rise and Limits of Transnational Sustainability Governance in Emerging Economies

Sun, Yixian · The MIT Press

Material complementario disponible
Lectura rápida. Revisá los datos básicos del recurso y luego accedé al contenido desde el botón principal. En esta ficha solo se muestra la información necesaria para identificar la obra, citarla y abrirla.

Acceso al recurso

Entrá al contenido desde la opción principal o elegí otra fuente disponible.

Acceso principal

Material complementario disponible

El enlace apunta a material asociado, anexos, tablas, datos o página complementaria. No se marca como libro/texto completo.
Abrir material

Cómo citar

Elegí el formato que necesitás y copiá la referencia al portapapeles.

APA 7

Sun, Y. (s. f.). Certifying China: The Rise and Limits of Transnational Sustainability Governance in Emerging Economies. The MIT Press. https://nodovox.com/record.php?id=220539

MLA

Sun, Yixian. Certifying China: The Rise and Limits of Transnational Sustainability Governance in Emerging Economies. The MIT Press. https://nodovox.com/record.php?id=220539.

Chicago

Sun, Yixian. s. f. Certifying China: The Rise and Limits of Transnational Sustainability Governance in Emerging Economies. The MIT Press. https://nodovox.com/record.php?id=220539.

Harvard

Sun, Y. s. f, Certifying China: The Rise and Limits of Transnational Sustainability Governance in Emerging Economies, The MIT Press, available at: https://nodovox.com/record.php?id=220539 [Accessed 30 Jun. 2026].

Compartir e imprimir

Guardá la ficha, copiá su enlace permanente o imprimila como PDF.

Exportar referencia

Si usás un gestor bibliográfico, podés exportar el registro en los formatos más comunes.

Detalles del recurso

Información bibliográfica útil para confirmar que se trata del material correcto.

Título
Certifying China : The Rise and Limits of Transnational Sustainability Governance in Emerging Economies
Autor / colaboradores
Sun, Yixian
Editorial
The MIT Press
ISBN
9780262369619;9780262543699
Copiado