Chapter Low Temperature Characterization and Modeling of FDSOI Transistors for Cryo CMOS Applications

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Chapter Low Temperature Characterization and Modeling of FDSOI Transistors for Cryo CMOS Applications

Cassé, Mikaël · InTechOpen

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Cassé, Mikaël

Editorial

InTechOpen

ISSN

10.5772/intechopen.98403

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Cassé, M. (s. f.). Chapter Low Temperature Characterization and Modeling of FDSOI Transistors for Cryo CMOS Applications. InTechOpen. https://nodovox.com/record.php?id=221633

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Cassé, Mikaël. Chapter Low Temperature Characterization and Modeling of FDSOI Transistors for Cryo CMOS Applications. InTechOpen. https://nodovox.com/record.php?id=221633.

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Cassé, M. s. f, Chapter Low Temperature Characterization and Modeling of FDSOI Transistors for Cryo CMOS Applications, InTechOpen, available at: https://nodovox.com/record.php?id=221633 [Accessed 29 Jun. 2026].

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Título: Chapter Low Temperature Characterization and Modeling of FDSOI Transistors for Cryo CMOS Applications

Autor / colaboradores: Cassé, Mikaël

Editorial: InTechOpen

ISSN: 10.5772/intechopen.98403