Far Infrared near normal specular reflectivty of Nix(SiO2)1-x (x=1.0,0.84,0.75,0.61,0.54,0.28) granular films
Massa, Nestor Emilio et al · Elsevier Science SA · 2010
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Massa, N. E. E. A. (2010). Far Infrared near normal specular reflectivty of Nix(SiO2)1-x (x=1.0,0.84,0.75,0.61,0.54,0.28) granular films. http://hdl.handle.net/11336/129697
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Massa, Nestor Emilio et al. "Far Infrared near normal specular reflectivty of Nix(SiO2)1-x (x=1.0,0.84,0.75,0.61,0.54,0.28) granular films." 2010. http://hdl.handle.net/11336/129697.
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Massa, Nestor Emilio et al. 2010. "Far Infrared near normal specular reflectivty of Nix(SiO2)1-x (x=1.0,0.84,0.75,0.61,0.54,0.28) granular films.". http://hdl.handle.net/11336/129697.
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Massa, N. E. E. A. 2010, Far Infrared near normal specular reflectivty of Nix(SiO2)1-x (x=1.0,0.84,0.75,0.61,0.54,0.28) granular films, Elsevier Science SA, available at: http://hdl.handle.net/11336/129697 [Accessed 29 Jun. 2026].
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- Título
- Far Infrared near normal specular reflectivty of Nix(SiO2)1-x (x=1.0,0.84,0.75,0.61,0.54,0.28) granular films
- Autor / colaboradores
- Massa, Nestor Emilio et al
- Editorial
- Elsevier Science SA
- Año de publicación
- 2010
- ISSN
- 0925-8388
- ISSN
- 0925-8388
- Idioma
- eng
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