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Artículo

The Origin of Efficiency in III‐Nitride Micro‐Light‐Emitting Diodes

Jeong‐Hwan Park et al · Wiley · 2026

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ABSTRACT We demonstrate that the primary factor determining the external quantum efficiency (EQE) of InGaN‐based micro‐scale light‐emitting diodes (µLEDs) depends on their internal state. A comparative photoluminescence (PL) study shows that the lateral diffusion length of carriers in InGaN red µLEDs is significantly shorter than in InGaN blue µLEDs, primarily due to inhomogeneity in the bulk material. This results in an insignificant change in PL intensity regardless of sidewall conditions. Additionally, examinations of EQE and peak wavelength across various epitaxial designs and sidewall conditions reveal that sidewall‐surface recombination does not significantly impact EQE in InGaN red µLEDs. Meanwhile, the peak wavelength, which represents the radiative recombination rate given by the quantum well design of InGaN red µLEDs, is found to dominantly influence the EQE of InGaN red µLEDs. Furthermore, statistical analysis based on the relative standard deviation indicates that the peak wavelength is one of the primary determinants of EQE in InGaN red µLEDs. These findings suggest that addressing internal state is crucial for optimizing EQE of µLEDs.

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APA 7

al, J. P. E. (2026). The Origin of Efficiency in III‐Nitride Micro‐Light‐Emitting Diodes. https://doi.org/10.1002/advs.202520738

MLA

al, Jeong‐Hwan Park et. "The Origin of Efficiency in III‐Nitride Micro‐Light‐Emitting Diodes." 2026. https://doi.org/10.1002/advs.202520738.

Chicago

al, Jeong‐Hwan Park et. 2026. "The Origin of Efficiency in III‐Nitride Micro‐Light‐Emitting Diodes.". https://doi.org/10.1002/advs.202520738.

Harvard

al, J. P. E. 2026, The Origin of Efficiency in III‐Nitride Micro‐Light‐Emitting Diodes, Wiley, available at: https://doi.org/10.1002/advs.202520738 [Accessed 29 Jun. 2026].

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Título
The Origin of Efficiency in III‐Nitride Micro‐Light‐Emitting Diodes
Autor / colaboradores
Jeong‐Hwan Park et al
Editorial
Wiley
Año de publicación
2026
ISSN
2198-3844
ISSN
2198-3844
Idioma
eng

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