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Ficha bibliográfica · Consulta y acceso
Tesis

Estructura electrónica de defectos con niveles profundos en semiconductores mediante cálculos de "clusters" por técnicas semiempíricas

Sferco, Silvano J · SEDICI UNLP · 1984

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Doctor en Física Universidad Nacional de La Plata Facultad de Ciencias Exactas

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Sferco, S. J. (1984). Estructura electrónica de defectos con niveles profundos en semiconductores mediante cálculos de "clusters" por técnicas semiempíricas. SEDICI UNLP. http://sedici.unlp.edu.ar/handle/10915/2386

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Sferco, Silvano J. Estructura electrónica de defectos con niveles profundos en semiconductores mediante cálculos de "clusters" por técnicas semiempíricas. SEDICI UNLP, 1984. http://sedici.unlp.edu.ar/handle/10915/2386.

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Sferco, Silvano J. 1984. Estructura electrónica de defectos con niveles profundos en semiconductores mediante cálculos de "clusters" por técnicas semiempíricas. SEDICI UNLP. http://sedici.unlp.edu.ar/handle/10915/2386.

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Sferco, S. J. 1984, Estructura electrónica de defectos con niveles profundos en semiconductores mediante cálculos de "clusters" por técnicas semiempíricas, SEDICI UNLP, available at: http://sedici.unlp.edu.ar/handle/10915/2386 [Accessed 30 Jun. 2026].

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Título
Estructura electrónica de defectos con niveles profundos en semiconductores mediante cálculos de "clusters" por técnicas semiempíricas
Autor / colaboradores
Sferco, Silvano J
Editorial
SEDICI UNLP
Año de publicación
1984
Idioma
es

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