Espectroscopía óptica del xenón múltiplemente ionizado por descargas pulsadas: análisis espectral del XeVI y XeVII
Sarmiento Mercado, Rafael Ricardo · SEDICI UNLP · 1999
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Asesor académico: Dr. Mario Garavaglia
Doctor en Física
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Sarmiento Mercado, R. R. (1999). Espectroscopía óptica del xenón múltiplemente ionizado por descargas pulsadas: análisis espectral del XeVI y XeVII. SEDICI UNLP. https://doi.org/10.35537/10915/2476
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Sarmiento Mercado, Rafael Ricardo. Espectroscopía óptica del xenón múltiplemente ionizado por descargas pulsadas: análisis espectral del XeVI y XeVII. SEDICI UNLP, 1999. https://doi.org/10.35537/10915/2476.
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Sarmiento Mercado, R. R. 1999, Espectroscopía óptica del xenón múltiplemente ionizado por descargas pulsadas: análisis espectral del XeVI y XeVII, SEDICI UNLP, available at: https://doi.org/10.35537/10915/2476 [Accessed 27 Jun. 2026].
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- Título
- Espectroscopía óptica del xenón múltiplemente ionizado por descargas pulsadas: análisis espectral del XeVI y XeVII
- Autor / colaboradores
- Sarmiento Mercado, Rafael Ricardo
- Editorial
- SEDICI UNLP
- Año de publicación
- 1999
- Idioma
- es
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