Applied Logistic Regression

David W. Hosmer; Stanley Lemeshow; Rodney X. Sturdivant · Wiley series in probability and statistics · 2013

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Autor / responsable

David W. Hosmer; Stanley Lemeshow; Rodney X. Sturdivant

Editorial

Wiley series in probability and statistics

Año

2013

Idioma

en

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Hosmer, D. W, Lemeshow, S, & Sturdivant, R. X. (2013). Applied Logistic Regression. Wiley series in probability and statistics. https://doi.org/10.1002/9781118548387

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Hosmer, David W, et al. Applied Logistic Regression. Wiley series in probability and statistics, 2013. https://doi.org/10.1002/9781118548387.

Chicago

Hosmer, David W, Stanley Lemeshow, and Rodney X. Sturdivant. 2013. Applied Logistic Regression. Wiley series in probability and statistics. https://doi.org/10.1002/9781118548387.

Harvard

Hosmer, D. W, Lemeshow, S. and Sturdivant, R. X. 2013, Applied Logistic Regression, Wiley series in probability and statistics, available at: https://doi.org/10.1002/9781118548387 [Accessed 29 Jun. 2026].

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Título: Applied Logistic Regression

Autor / colaboradores: David W. Hosmer; Stanley Lemeshow; Rodney X. Sturdivant

Editorial: Wiley series in probability and statistics

Año de publicación: 2013

Idioma: en

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