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Influence of partially known parameter on flaw characterization in Eddy Current Testing by using a random walk MCMC method based on metamodeling

Caifang Cai; Thomas Rodet; Marc Lambert · Journal of Physics Conference Series · 2014

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Cai, C, Rodet, T, & Lambert, M. (2014). Influence of partially known parameter on flaw characterization in Eddy Current Testing by using a random walk MCMC method based on metamodeling. https://doi.org/10.1088/1742-6596/542/1/012009

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Cai, Caifang, et al. "Influence of partially known parameter on flaw characterization in Eddy Current Testing by using a random walk MCMC method based on metamodeling." 2014. https://doi.org/10.1088/1742-6596/542/1/012009.

Chicago

Cai, Caifang, Thomas Rodet, and Marc Lambert. 2014. "Influence of partially known parameter on flaw characterization in Eddy Current Testing by using a random walk MCMC method based on metamodeling.". https://doi.org/10.1088/1742-6596/542/1/012009.

Harvard

Cai, C, Rodet, T. and Lambert, M. 2014, Influence of partially known parameter on flaw characterization in Eddy Current Testing by using a random walk MCMC method based on metamodeling, Journal of Physics Conference Series, available at: https://doi.org/10.1088/1742-6596/542/1/012009 [Accessed 8 Aug. 2026].

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Titolo
Influence of partially known parameter on flaw characterization in Eddy Current Testing by using a random walk MCMC method based on metamodeling
Autore / collaboratori
Caifang Cai; Thomas Rodet; Marc Lambert
Editore
Journal of Physics Conference Series
Anno di pubblicazione
2014
Lingua
Inglés

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