Uso de microscopía óptica, espectrometría Mössbauer, difracción de rayos X, SIMS y LAM-ICP-ms para la caracterización de muestras minerales

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Uso de microscopía óptica, espectrometría Mössbauer, difracción de rayos X, SIMS y LAM-ICP-ms para la caracterización de muestras minerales

Bustos Rodríguez, Humberto · Sello editorial Universidad del Tolima · 2024

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Autor / responsable

Bustos Rodríguez, Humberto

Editorial

Sello editorial Universidad del Tolima

Año

2024

ISBN

9786287670693

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Título: Uso de microscopía óptica, espectrometría Mössbauer, difracción de rayos X, SIMS y LAM-ICP-ms para la caracterización de muestras minerales

Autor / colaboradores: Bustos Rodríguez, Humberto

Editorial: Sello editorial Universidad del Tolima

Año de publicación: 2024

ISBN: 9786287670693

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