Aplicaciones de los rayos X al estudio de la estructura de los materiales: difracción de Rayos X por monocristales y reflectometría en películas delgadas.
Garraza, María Soledad · Universidad Nacional de San Martín. Instituto de Tecnología Nuclear Dan Beninson · 2018
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Resumen
Descripción general del contenido del recurso.
La idea directriz de este trabajo ha sido adquirir experiencia en algunas técnicas de Rayos X que puedan ser de potencial interés y eventual proyección para las futura actividades a desarrollarse en el Laboratorio de Haces de Neutrones.
Fil: Garraza, María Soledad. Universidad Nacional de San Martín. Instituto de Tecnología Nuclear Dan Beninson
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Garraza, M. S. (2018). Aplicaciones de los rayos X al estudio de la estructura de los materiales: difracción de Rayos X por monocristales y reflectometría en películas delgadas. Universidad Nacional de San Martín. Instituto de Tecnología Nuclear Dan Beninson. https://ri.unsam.edu.ar/handle/123456789/1145
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Garraza, María Soledad. Aplicaciones de los rayos X al estudio de la estructura de los materiales: difracción de Rayos X por monocristales y reflectometría en películas delgadas. Universidad Nacional de San Martín. Instituto de Tecnología Nuclear Dan Beninson, 2018. https://ri.unsam.edu.ar/handle/123456789/1145.
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Garraza, María Soledad. 2018. Aplicaciones de los rayos X al estudio de la estructura de los materiales: difracción de Rayos X por monocristales y reflectometría en películas delgadas. Universidad Nacional de San Martín. Instituto de Tecnología Nuclear Dan Beninson. https://ri.unsam.edu.ar/handle/123456789/1145.
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Garraza, M. S. 2018, Aplicaciones de los rayos X al estudio de la estructura de los materiales: difracción de Rayos X por monocristales y reflectometría en películas delgadas, Universidad Nacional de San Martín. Instituto de Tecnología Nuclear Dan Beninson, available at: https://ri.unsam.edu.ar/handle/123456789/1145 [Accessed 22 Jun. 2026].
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- Título
- Aplicaciones de los rayos X al estudio de la estructura de los materiales: difracción de Rayos X por monocristales y reflectometría en películas delgadas.
- Autor / colaboradores
- Garraza, María Soledad
- Editorial
- Universidad Nacional de San Martín. Instituto de Tecnología Nuclear Dan Beninson
- Año de publicación
- 2018
- Idioma
- spa
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