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Crystallographic Features of Nanostructures SnTe on Polyimide

Ya. P. Saliy · Vasyl Stefanyk Carpathian National University · 2016

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<blockquote><blockquote>It is done the statistical analysis of crystallographic angles of surface elements of tin telluride films deposited on a substrate of polyimide by open evaporation in a vacuum. Analysis of images obtained by atomic force microscope revealed the influence of technological factors on the features of shape and spatial orientation of surface islands. It is shown that the islands are a dome-shaped with changing the ratio of the width to the lateral diameter. Weak dependence of symmetry islands on the deposition conditions is revealed. <br /><strong>Keywords</strong>: tin telluride, atomic force microscopy, crystallography.</blockquote></blockquote>

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APA 7

Saliy, Y. P. (2016). Crystallographic Features of Nanostructures SnTe on Polyimide. https://doi.org/10.15330/pcss.16.1.79-82

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Saliy, Ya. P. "Crystallographic Features of Nanostructures SnTe on Polyimide." 2016. https://doi.org/10.15330/pcss.16.1.79-82.

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Saliy, Ya. P. 2016. "Crystallographic Features of Nanostructures SnTe on Polyimide.". https://doi.org/10.15330/pcss.16.1.79-82.

Harvard

Saliy, Y. P. 2016, Crystallographic Features of Nanostructures SnTe on Polyimide, Vasyl Stefanyk Carpathian National University, available at: https://doi.org/10.15330/pcss.16.1.79-82 [Accessed 29 Jun. 2026].

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Título
Crystallographic Features of Nanostructures SnTe on Polyimide
Autor / colaboradores
Ya. P. Saliy
Editorial
Vasyl Stefanyk Carpathian National University
Año de publicación
2016
ISSN
1729-4428
ISSN
1729-4428
Idioma
eng
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