Zurück zu den Ergebnissen
Bibliografischer Datensatz · Ansicht und Zugriff
Artículo

Sensitive measurement of optical nonlinearities using a single beam

Mansoor Sheik‐Bahae; A. A. Said; Tai‐Huei Wei; David J. Hagan; Eric W. Van Stryland · IEEE Journal of Quantum Electronics · 1990

Ressourcenseite
Schnellübersicht. Prüfen Sie die grundlegenden Angaben und öffnen Sie den Inhalt über die Hauptschaltfläche. Die Seite zeigt nur die Informationen, die zum Identifizieren, Zitieren und Öffnen des Werks nötig sind.

Zugriff auf die Ressource

Öffnen Sie den Inhalt über die Hauptoption oder wählen Sie eine andere verfügbare Quelle.

OpenAlex OpenAlex Works
Entrar por OpenAlex
Hauptzugriff

Ressourcenseite

Referenzseite der Ressource. Die Verfügbarkeit des Volltexts wurde nicht automatisch bestätigt.
Ressource öffnen

Übersicht

Descripción general del contenido del recurso.

A sensitive single-beam technique for measuring both the nonlinear refractive index and nonlinear absorption coefficient for a wide variety of materials is reported. The authors describe the experimental details and present a comprehensive theoretical analysis including cases where nonlinear refraction is accompanied by nonlinear absorption. In these experiments, the transmittance of a sample is measured through a finite aperture in the far field as the sample is moved along the propagation path (z) of a focused Gaussian beam. The sign and magnitude of the nonlinear refraction are easily deduced from such a transmittance curve (Z-scan). Employing this technique, a sensitivity of better than lambda /300 wavefront distortion is achieved in n/sub 2/ measurements of BaF/sub 2/ using picosecond frequency-doubled Nd:YAG laser pulses.< <ETX xmlns:mml="http://www.w3.org/1998/Math/MathML" xmlns:xlink="http://www.w3.org/1999/xlink">&gt;</ETX>

Zitieren

Elegí el formato que necesitás y copiá la referencia al portapapeles.

APA 7

Sheik‐Bahae, M, Said, A. A, Wei, T, Hagan, D. J, & Stryland, E. W. V. (1990). Sensitive measurement of optical nonlinearities using a single beam. https://doi.org/10.1109/3.53394

MLA

Sheik‐Bahae, Mansoor, et al. "Sensitive measurement of optical nonlinearities using a single beam." 1990. https://doi.org/10.1109/3.53394.

Chicago

Sheik‐Bahae, Mansoor, A. A. Said, Tai‐Huei Wei, David J. Hagan, and Eric W. Van Stryland. 1990. "Sensitive measurement of optical nonlinearities using a single beam.". https://doi.org/10.1109/3.53394.

Harvard

Sheik‐Bahae, M. et al. 1990, Sensitive measurement of optical nonlinearities using a single beam, IEEE Journal of Quantum Electronics, available at: https://doi.org/10.1109/3.53394 [Accessed 10 Aug. 2026].

Teilen und drucken

Speichern Sie den Datensatz, kopieren Sie den Permalink oder drucken Sie ihn als PDF.

Referenz exportieren

Exportieren Sie den Datensatz in gängigen Formaten für Literaturverwaltungsprogramme.

Ressourcendetails

Bibliografische Angaben zur Prüfung, ob es sich um das richtige Material handelt.

Titel
Sensitive measurement of optical nonlinearities using a single beam
Autor / Mitwirkende
Mansoor Sheik‐Bahae; A. A. Said; Tai‐Huei Wei; David J. Hagan; Eric W. Van Stryland
Verlag
IEEE Journal of Quantum Electronics
Erscheinungsjahr
1990
Sprache
Inglés

Schlagwörter

Entdecken Sie über diese Schlagwörter weitere verwandte Ressourcen.

Kopiert