Optical force microscopy: combining light with atomic force microscopy for nanomaterial identification

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Optical force microscopy: combining light with atomic force microscopy for nanomaterial identification

Jahan Nusrat et al · Wiley · 2019

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Autor / responsable

Jahan Nusrat et al

Editorial

Wiley

Año

2019

ISSN

2192-8606

ISSN

2192-8606

Idioma

eng

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Scanning probe techniques have evolved significantly in recent years to detect surface morphology of materials down to subnanometer resolution, but without revealing spectroscopic information. In this review, we discuss recent advances in scanning probe techniques that capitalize on light-induced forces for studying nanomaterials down to molecular specificities with nanometer spatial resolution.

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al, J. N. E. (2019). Optical force microscopy: combining light with atomic force microscopy for nanomaterial identification. https://doi.org/10.1515/nanoph-2019-0181

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al, Jahan Nusrat et. "Optical force microscopy: combining light with atomic force microscopy for nanomaterial identification." 2019. https://doi.org/10.1515/nanoph-2019-0181.

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al, Jahan Nusrat et. 2019. "Optical force microscopy: combining light with atomic force microscopy for nanomaterial identification.". https://doi.org/10.1515/nanoph-2019-0181.

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al, J. N. E. 2019, Optical force microscopy: combining light with atomic force microscopy for nanomaterial identification, Wiley, available at: https://doi.org/10.1515/nanoph-2019-0181 [Accessed 30 Jun. 2026].

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Título: Optical force microscopy: combining light with atomic force microscopy for nanomaterial identification

Autor / colaboradores: Jahan Nusrat et al

Editorial: Wiley

Año de publicación: 2019

ISSN: 2192-8606

ISSN: 2192-8606

Idioma: eng

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