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Ficha bibliográfica · Consulta y acceso
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Deep learning enabled single-shot absolute phase recovery in high-speed composite fringe pattern profilometry of separated objects

Maciej Trusiak et al · Editorial Office of Opto-Electronic Journals Group, Institute of Optics and Electronics, CAS, China · 2023

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A recent article in the Opto-Electronic Advances (OEA) journal from Prof. Qian Chen and Prof. Chao Zuo’s group introduced a new and efficient 3D imaging system that captures high-speed images using deep learning-enabled fringe projection profilometry (FPP). In this News & Views article, we explore potential avenues for future advancements, including expanding the measurement range through an extended number-theoretical approach, enhancing quality through the incorporation of horizontal fringes, and integrating data from other modalities to broaden the system's applications.

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APA 7

al, M. T. E. (2023). Deep learning enabled single-shot absolute phase recovery in high-speed composite fringe pattern profilometry of separated objects. https://doi.org/10.29026/oea.2023.230172

MLA

al, Maciej Trusiak et. "Deep learning enabled single-shot absolute phase recovery in high-speed composite fringe pattern profilometry of separated objects." 2023. https://doi.org/10.29026/oea.2023.230172.

Chicago

al, Maciej Trusiak et. 2023. "Deep learning enabled single-shot absolute phase recovery in high-speed composite fringe pattern profilometry of separated objects.". https://doi.org/10.29026/oea.2023.230172.

Harvard

al, M. T. E. 2023, Deep learning enabled single-shot absolute phase recovery in high-speed composite fringe pattern profilometry of separated objects, Editorial Office of Opto-Electronic Journals Group, Institute of Optics and Electronics, CAS, China, available at: https://doi.org/10.29026/oea.2023.230172 [Accessed 29 Jun. 2026].

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Título
Deep learning enabled single-shot absolute phase recovery in high-speed composite fringe pattern profilometry of separated objects
Autor / colaboradores
Maciej Trusiak et al
Editorial
Editorial Office of Opto-Electronic Journals Group, Institute of Optics and Electronics, CAS, China
Año de publicación
2023
ISSN
2096-4579
ISSN
2096-4579
Idioma
eng
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