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Super-resolution imaging of resonance modes in semiconductor nanowires by detecting photothermal nonlinear scattering

Chen Yu-An et al · Wiley · 2025

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3-D near-field imaging of guided modes in nanophotonic waveguides

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We demonstrated a far-field super-resolution optical imaging for mapping the resonance mode within semiconductor nanowires, where periodic distributions are found with good agreement between simulation and experiment. The pronounced absorption at the antinodes leads to localized photothermal heating, as well as consequent scattering nonlinearity via the thermo-optic effect. To break the diffraction limit, we combine the scattering nonlinearity with tightly focused laser scanning. Based on the principle of saturated excitation (SAX) microscopy, the nonlinear scattering signals are extracted to significantly improve the spatial resolution (1.7 fold), enabling visualization of the resonant modes that are not visible with conventional far-field optical imaging. Our results pave the way for optical inspection of semiconductor photonic integrated circuits with subdiffraction-limit spatial resolution.

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APA 7

al, C. Y. A. E. (2025). Super-resolution imaging of resonance modes in semiconductor nanowires by detecting photothermal nonlinear scattering. https://doi.org/10.1515/nanoph-2025-0383

MLA

al, Chen Yu-An et. "Super-resolution imaging of resonance modes in semiconductor nanowires by detecting photothermal nonlinear scattering." 2025. https://doi.org/10.1515/nanoph-2025-0383.

Chicago

al, Chen Yu-An et. 2025. "Super-resolution imaging of resonance modes in semiconductor nanowires by detecting photothermal nonlinear scattering.". https://doi.org/10.1515/nanoph-2025-0383.

Harvard

al, C. Y. A. E. 2025, Super-resolution imaging of resonance modes in semiconductor nanowires by detecting photothermal nonlinear scattering, Wiley, available at: https://doi.org/10.1515/nanoph-2025-0383 [Accessed 2 Jul. 2026].

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Título
Super-resolution imaging of resonance modes in semiconductor nanowires by detecting photothermal nonlinear scattering
Autor / colaboradores
Chen Yu-An et al
Editorial
Wiley
Año de publicación
2025
ISSN
2192-8614
ISSN
2192-8614
Idioma
eng

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