Establishing exhaustive metasurface robustness against fabrication uncertainties through deep learning
Jenkins Ronald P. et al · Wiley · 2021
3-D near-field imaging of guided modes in nanophotonic waveguides
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al, J. R. P. E. (2021). Establishing exhaustive metasurface robustness against fabrication uncertainties through deep learning. https://doi.org/10.1515/nanoph-2021-0428
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al, Jenkins Ronald P. et. "Establishing exhaustive metasurface robustness against fabrication uncertainties through deep learning." 2021. https://doi.org/10.1515/nanoph-2021-0428.
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al, J. R. P. E. 2021, Establishing exhaustive metasurface robustness against fabrication uncertainties through deep learning, Wiley, available at: https://doi.org/10.1515/nanoph-2021-0428 [Accessed 8 Aug. 2026].
Detalles del recurso
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- Título
- Establishing exhaustive metasurface robustness against fabrication uncertainties through deep learning
- Autor / colaboradores
- Jenkins Ronald P. et al
- Editorial
- Wiley
- Año de publicación
- 2021
- ISSN
- 2192-8614
- ISSN
- 2192-8614
- Idioma
- Inglés
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