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Electron-beam recording of surface structures on As-S-Se chalcogenide thin films

L. Revutska et al · Vasyl Stefanyk Carpathian National University · 2020

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The effect of electron beam irradiation on the amorphous chalcogenide film As38S36Se26 was studied. The formation of cones with a Gaussian profile on the surfaces of the films was found after local electron irradiation. Exposition dependent evolution of height surface nanostructures has been detected. The dependence of the height of surface nanostructures on the dose of irradiation is analyzed. Charge accumulation model into interaction region between the film and the electron beam was used to explain the electron-induced phenomena of the surface structure of amorphous As38S36Se26 films. Charges relaxation times, and electron beam penetration depth into film, and the initial and inverse doses are determined.

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APA 7

al, L. R. E. (2020). Electron-beam recording of surface structures on As-S-Se chalcogenide thin films. https://doi.org/10.15330/pcss.21.1.146-150

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al, L. Revutska et. "Electron-beam recording of surface structures on As-S-Se chalcogenide thin films." 2020. https://doi.org/10.15330/pcss.21.1.146-150.

Chicago

al, L. Revutska et. 2020. "Electron-beam recording of surface structures on As-S-Se chalcogenide thin films.". https://doi.org/10.15330/pcss.21.1.146-150.

Harvard

al, L. R. E. 2020, Electron-beam recording of surface structures on As-S-Se chalcogenide thin films, Vasyl Stefanyk Carpathian National University, available at: https://doi.org/10.15330/pcss.21.1.146-150 [Accessed 5 Aug. 2026].

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Titolo
Electron-beam recording of surface structures on As-S-Se chalcogenide thin films
Autore / collaboratori
L. Revutska et al
Editore
Vasyl Stefanyk Carpathian National University
Anno di pubblicazione
2020
ISSN
1729-4428
ISSN
1729-4428
Lingua
Inglés

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