The Thickness Dependence of Thermoelectric Parameters of thin Films Based on Compounds LAST

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The Thickness Dependence of Thermoelectric Parameters of thin Films Based on Compounds LAST

B. S. Dzundza et al · Vasyl Stefanyk Carpathian National University · 2016

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Autor / responsable

B. S. Dzundza et al

Editorial

Vasyl Stefanyk Carpathian National University

Año

2016

ISSN

1729-4428

ISSN

1729-4428

Idioma

Inglés

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<p>The thermoelectric properties of thin films based on compounds PbSnAgTe, obtained by condensation of vapor on the high vacuum on mica substrate are researched. Based on a two-layer model Petrits are founded electrical parameters of surface layers. It is shown that condensates thickness d < 500 nm are characterized by improved thermoelectric properties.</p><p>Keywords: size effect, thin film, lead telluride, thermoelectric properties.</p>

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al, B. S. D. E. (2016). The Thickness Dependence of Thermoelectric Parameters of thin Films Based on Compounds LAST. https://doi.org/10.15330/pcss.17.3.368-371

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al, B. S. Dzundza et. "The Thickness Dependence of Thermoelectric Parameters of thin Films Based on Compounds LAST." 2016. https://doi.org/10.15330/pcss.17.3.368-371.

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al, B. S. Dzundza et. 2016. "The Thickness Dependence of Thermoelectric Parameters of thin Films Based on Compounds LAST.". https://doi.org/10.15330/pcss.17.3.368-371.

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al, B. S. D. E. 2016, The Thickness Dependence of Thermoelectric Parameters of thin Films Based on Compounds LAST, Vasyl Stefanyk Carpathian National University, available at: https://doi.org/10.15330/pcss.17.3.368-371 [Accessed 5 Aug. 2026].

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Título: The Thickness Dependence of Thermoelectric Parameters of thin Films Based on Compounds LAST

Autor / colaboradores: B. S. Dzundza et al

Editorial: Vasyl Stefanyk Carpathian National University

Año de publicación: 2016

ISSN: 1729-4428

ISSN: 1729-4428

Idioma: Inglés