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Measurement of thermoelectric parameters of thin-film semiconductor materials using the Harman method

Y. V. Tur et al · Vasyl Stefanyk Carpathian National University · 2019

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Autore / responsabile
Y. V. Tur et al
Editore
Vasyl Stefanyk Carpathian National University
Anno
2019
ISSN
1729-4428
ISSN
1729-4428
Lingua
Inglés

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For the analysis of the measurement of thermoelectric parameters of semiconductors, the Harman pulsed method was used. The authors propose a new approach to determine the thermoelectric quality factor of thin semiconductor films in the temperature interval (300 ÷ 500) K by directly measuring a series of electric circuit parameters. The theory of the method is described in detail and its application in the measurement methodology. The dependences of electrical quantities on the time, namely voltage – V(t), are investigated at different values of current pulses for thin films PbTe<Tl> grown by the pulsed laser deposition.

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APA 7

al, Y. V. T. E. (2019). Measurement of thermoelectric parameters of thin-film semiconductor materials using the Harman method. https://doi.org/10.15330/pcss.20.3.306-310

MLA

al, Y. V. Tur et. "Measurement of thermoelectric parameters of thin-film semiconductor materials using the Harman method." 2019. https://doi.org/10.15330/pcss.20.3.306-310.

Chicago

al, Y. V. Tur et. 2019. "Measurement of thermoelectric parameters of thin-film semiconductor materials using the Harman method.". https://doi.org/10.15330/pcss.20.3.306-310.

Harvard

al, Y. V. T. E. 2019, Measurement of thermoelectric parameters of thin-film semiconductor materials using the Harman method, Vasyl Stefanyk Carpathian National University, available at: https://doi.org/10.15330/pcss.20.3.306-310 [Accessed 8 Aug. 2026].

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Titolo
Measurement of thermoelectric parameters of thin-film semiconductor materials using the Harman method
Autore / collaboratori
Y. V. Tur et al
Editore
Vasyl Stefanyk Carpathian National University
Anno di pubblicazione
2019
ISSN
1729-4428
ISSN
1729-4428
Lingua
Inglés

Soggetti

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thin films; lead telluride; thermoelectric quality factor; the harman method; pulsed-laser deposition.
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