Optical and Structural Properties of CdTe Thin Films for Photovoltaic Applications

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Optical and Structural Properties of CdTe Thin Films for Photovoltaic Applications

B.S. Dzundza et al · Vasyl Stefanyk Carpathian National University · 2026

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Autor / responsable

B.S. Dzundza et al

Editorial

Vasyl Stefanyk Carpathian National University

Año

2026

ISSN

1729-4428

ISSN

1729-4428

Idioma

Inglés

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The paper presents the results of a study of cadmium telluride thin films grown on glass substrates by open evaporation in vacuum. Based on experimentally measured optical transmittance spectra of the films, their optical parameters were calculated using the OPTIFIT software environment. A comparative analysis of the film thickness measured with a profilometer and the OPTIFIT model showed only minor deviations in thickness for thin films up to 3-4 µm. Analysis of AFM images revealed a significant improvement in the structural characteristics of CdTe films, in particular a reduction in the number of defects and in surface roughness for thicknesses of 500–2500 nm, which contributes to increasing the efficiency of photovoltaic energy converters.

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al, B. D. E. (2026). Optical and Structural Properties of CdTe Thin Films for Photovoltaic Applications. https://doi.org/10.15330/pcss.27.1.165-171

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al, B.S. Dzundza et. "Optical and Structural Properties of CdTe Thin Films for Photovoltaic Applications." 2026. https://doi.org/10.15330/pcss.27.1.165-171.

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al, B.S. Dzundza et. 2026. "Optical and Structural Properties of CdTe Thin Films for Photovoltaic Applications.". https://doi.org/10.15330/pcss.27.1.165-171.

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al, B. D. E. 2026, Optical and Structural Properties of CdTe Thin Films for Photovoltaic Applications, Vasyl Stefanyk Carpathian National University, available at: https://doi.org/10.15330/pcss.27.1.165-171 [Accessed 5 Aug. 2026].

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Título: Optical and Structural Properties of CdTe Thin Films for Photovoltaic Applications

Autor / colaboradores: B.S. Dzundza et al

Editorial: Vasyl Stefanyk Carpathian National University

Año de publicación: 2026

ISSN: 1729-4428

ISSN: 1729-4428

Idioma: Inglés

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