Stress-Induced Deformation of Thin Copper Substrate in Double-Sided Lapping
Jiang Guo et al · KeAi Communications Co., Ltd · 2023
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al, J. G. E. (2023). Stress-Induced Deformation of Thin Copper Substrate in Double-Sided Lapping. https://doi.org/10.1186/s10033-022-00824-y
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al, Jiang Guo et. "Stress-Induced Deformation of Thin Copper Substrate in Double-Sided Lapping." 2023. https://doi.org/10.1186/s10033-022-00824-y.
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al, Jiang Guo et. 2023. "Stress-Induced Deformation of Thin Copper Substrate in Double-Sided Lapping.". https://doi.org/10.1186/s10033-022-00824-y.
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al, J. G. E. 2023, Stress-Induced Deformation of Thin Copper Substrate in Double-Sided Lapping, KeAi Communications Co, Ltd, available at: https://doi.org/10.1186/s10033-022-00824-y [Accessed 9 Aug. 2026].
Dettagli della risorsa
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- Titolo
- Stress-Induced Deformation of Thin Copper Substrate in Double-Sided Lapping
- Autore / collaboratori
- Jiang Guo et al
- Editore
- KeAi Communications Co., Ltd
- Anno di pubblicazione
- 2023
- ISSN
- 2192-8258
- ISSN
- 2192-8258
- Lingua
- Inglés
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