VLSI Design : An Internation Journal of Custom-Chip Design, Simulation, and Testing

Revista científica

VLSI Design : An Internation Journal of Custom-Chip Design, Simulation, and Testing

Wiley

Institutioneller Zugriff verfügbar

Schnellübersicht. Prüfen Sie die grundlegenden Angaben und öffnen Sie den Inhalt über die Hauptschaltfläche. Die Seite zeigt nur die Informationen, die zum Identifizieren, Zitieren und Öffnen des Werks nötig sind.

Verlag

Wiley

ISSN

1065514X

ISSN

15635171

Zugriff auf die Ressource

Öffnen Sie den Inhalt über die Hauptoption oder wählen Sie eine andere verfügbare Quelle.

EBSCO Engineering Source

Entrar por EBSCO

Hauptzugriff

Institutioneller Zugriff verfügbar

El acceso puede requerir institución, suscripción, proxy, VPN o autenticación.

Zugriff öffnen

Zitieren

Elegí el formato que necesitás y copiá la referencia al portapapeles.

APA 7

Wiley (s. f.). VLSI Design: An Internation Journal of Custom-Chip Design, Simulation, and Testing. https://search.ebscohost.com/direct.asp?db=egs&jid=J6J&scope=site

MLA

Wiley. "VLSI Design: An Internation Journal of Custom-Chip Design, Simulation, and Testing.". https://search.ebscohost.com/direct.asp?db=egs&jid=J6J&scope=site.

Chicago

Wiley. s. f. "VLSI Design: An Internation Journal of Custom-Chip Design, Simulation, and Testing.". https://search.ebscohost.com/direct.asp?db=egs&jid=J6J&scope=site.

Harvard

Wiley s. f, VLSI Design: An Internation Journal of Custom-Chip Design, Simulation, and Testing, Wiley, available at: https://search.ebscohost.com/direct.asp?db=egs&jid=J6J&scope=site [Accessed 10 Aug. 2026].

Teilen und drucken

Speichern Sie den Datensatz, kopieren Sie den Permalink oder drucken Sie ihn als PDF.

Referenz exportieren

Exportieren Sie den Datensatz in gängigen Formaten für Literaturverwaltungsprogramme.

RIS BibTeX

Ressourcendetails

Bibliografische Angaben zur Prüfung, ob es sich um das richtige Material handelt.

Titel: VLSI Design : An Internation Journal of Custom-Chip Design, Simulation, and Testing

Autor / Mitwirkende: Wiley

Verlag: Wiley

ISSN: 1065514X

ISSN: 15635171