Buscar recursos académicos

Encontrá libros, artículos, revistas, tesis y otros recursos académicos. Buscá, elegí el resultado correcto y accedé al contenido.

Qué reúne NODOVOX Discovery: catálogos institucionales, recursos electrónicos, revistas de acceso abierto, colecciones disponibles y enlaces de consulta académica.

Resultados

7 resultados encontrados.

Tipos de recurso: Libro electrónico Artículo Revista Tesis Capítulo
Búsqueda académica
Temperature-stable black phosphorus field-effect transistors through effective phonon scattering suppression on atomic layer deposited aluminum nitride
Artículo
Material complementario disponible Artículo DOAJ
Liu Wenjun et al · Wiley · 2020 · ISSN 2192-8606
Black phosphorus (BP) shows great potential in electronic and optoelectronic applications; however, maintaining the stable performance of BP devices over temperature is still challenging. Here, a novel BP field-effect tr...
LCC TENDOlBoeXNpY3M~Idioma eng
Material complementario disponibleEl enlace apunta a material asociado, anexos, tablas, datos o página complementaria. No se marca como libro/texto completo.
Material complementario
Oxide induced degradation in MoS2 field-effect transistors
Artículo
Acceso abierto Artículo DOAJ
Fabian Ducry et al · Nature Portfolio · 2026 · ISSN 2397-7132
Abstract Transition Metal Dichalcogenides (TMDC) are promising candidates for future scaled transistor channels but their performance is often degraded by imperfections such as the interface with amorphous gate oxides. T...
LCC LCC:Materials of engineering and construction. Mechanics of materials; TENDOkNoZW1pc3RyeQ~~Idioma eng
Acceso abiertoRuta libre sin proxy. Acceso recomendado cuando no hay suscripción activa.
Open Access
Degradation mechanisms and trap evolution in SiC asymmetric trench MOSFETs under power cycling tests
Artículo
Acceso abierto Artículo DOAJ
Xueyan Li et al · AIP Publishing LLC · 2026 · ISSN 2158-3226
In this study, we investigated the degradation mechanisms of silicon carbide asymmetric trenches of metal-oxide semiconductor field-effect transistors (SiC AT-MOSFETs) under power cycling tests (PCTs). After 60000 cycles...
LCC TENDOlBoeXNpY3M~Idioma eng
Acceso abiertoRuta libre sin proxy. Acceso recomendado cuando no hay suscripción activa.
Open Access
Graded-Gap Technology Formatting of High-Speed GaAs – Transistor Structures as the Basis for Modern of Large Integrated Circuits
Artículo
Acceso abierto Artículo DOAJ
S. P. Novosyadlyy et al · Vasyl Stefanyk Carpathian National University · 2016 · ISSN 1729-4428
Reducing the size of silicon devices is accompanied by an increase in the effective rate of electrons, decrease transit time and the transition to a ballistic work. Power consumption is reduced too. Formation of large in...
LCC TENDOlBoeXNpY3M~Idioma eng
Acceso abiertoRuta libre sin proxy. Acceso recomendado cuando no hay suscripción activa.
Open Access
Microgravity-activated high-performance van der Waals InSe ferroelectric semiconductor
Artículo
Acceso abierto Artículo DOAJ
Rong Jin et al · Nature Portfolio · 2026 · ISSN 2041-1723
Abstract The space microgravity environment, scarcely attainable on Earth, is considered to have a positive effect on crystal growth, especially the van der Waals layered materials with low interlayer sliding energy barr...
LCC TENDOlNjaWVuY2U~Idioma eng
Acceso abiertoRuta libre sin proxy. Acceso recomendado cuando no hay suscripción activa.
Open Access
Templated perpendicular ferroelectricity in textured Aurivillius oxide-based thin films
Artículo
Material complementario disponible Artículo DOAJ
Song Zhou et al · Nature Portfolio · 2026 · ISSN 2041-1723
Abstract The discovery of novel ferroelectric compounds and the modulation of polarization in established ferroelectric materials have persistently represented crucial and highly dynamic areas of research within the fiel...
LCC TENDOlNjaWVuY2U~Idioma eng
Material complementario disponibleEl enlace apunta a material asociado, anexos, tablas, datos o página complementaria. No se marca como libro/texto completo.
Material complementario
​​​Oxy​gen-controlled IGZO channel deposition for enhanced memory window in ferroelectric FETs
Artículo
Acceso abierto Artículo DOAJ
He Young Kang et al · Nature Portfolio · 2026 · ISSN 2045-2322
Abstract Ferroelectric field-effect transistors (FeFETs) incorporating hafnium-oxide-based ferroelectrics are promising candidates for next-generation nonvolatile memory technologies. Nevertheless, interface-related chal...
LCC LCC:Medicine; TENDOlNjaWVuY2U~Idioma eng
Acceso abiertoRuta libre sin proxy. Acceso recomendado cuando no hay suscripción activa.
Open Access