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Far Infrared near normal specular reflectivty of Nix(SiO2)1-x (x=1.0,0.84,0.75,0.61,0.54,0.28) granular films
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Far Infrared near normal specular reflectivty of Nix(SiO2)1-x (x=1.0,0.84,0.75,0.61,0.54,0.28) granular films
Massa, Nestor Emilio et al · Elsevier Science SA · 2010 · ISSN 0925-8388
One of the current issues at the basis of the understanding of novel materials is the degree of the role played by spatial inhomogeneities due to subtle phase separations. To clarify this picture here we compare the plai...
Idioma eng
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