Modelo de vigilancia tecnológica basado en patrones asociados a factores críticos
Infante Abreu, Marta Beatriz · Editorial Universitaria · 2015
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Infante Abreu, M. B. (2015). Modelo de vigilancia tecnológica basado en patrones asociados a factores críticos. Editorial Universitaria. https://nodovox.com/record.php?id=371674
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Resource details
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- Title
- Modelo de vigilancia tecnológica basado en patrones asociados a factores críticos
- Author / contributors
- Infante Abreu, Marta Beatriz
- Publisher
- Editorial Universitaria
- Publication year
- 2015
- ISBN
- ISBN electrónico: 9789591628671
- Language
- Spanish
Subjects
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